We maken gebruik van OES-technologie voor betrouwbare metaalcertificering. Deze vertrouwde analytische methode verifieert de elementaire samenstelling van alle binnenkomende metallische grondstoffen (half-afgewerkte en afgewerkte goederen), zodat ze aan strikte specificaties voldoen voordat de productie begint.

Onze CMM biedt hoge-nauwkeurige dimensionale analyse. Door een sonde te gebruiken om discrete puntgegevens van het onderdeeloppervlak vast te leggen, genereert deze een digitale representatie van de component. Deze gegevens worden verwerkt door geavanceerde software om complexe geometrieën, afmetingen en positionele tolerantiesnauwkeurig te verifiëren ten opzichte van het oorspronkelijke ontwerp.

Dezeniet-contact optisch systeem is ideaal voor hoge-snelheid,nauwkeurige meting van twee-dimensionale kenmerken. Het meet efficiënt kritische afmetingen zoals diameters, stralen, lengtes, hoeken en afstanden (punt-aan-punt, punt-aan-lijn, midden-aan-centrum, enz.) op een vlak vlak.

Wordt veelvuldig gebruikt voor initiële inspecties en in-procesbemonstering, remklauwen bieden een directe ennauwkeurige uitlezing voor het meten van buitendiameters (O.D), binnendiameters (Identiteitskaart), lengtes, diktes en dieptes.

Hoog ingezet-Nauwkeurige meting van buiten- en binnendiameters bieden onze micrometers eennauwkeurigheid tot 0,001 mm, waardoor consistent aannauwe toleranties wordt voldaan.

Ideaal voor het inspecteren van kleine-schaalkenmerken, pinmeters worden gebruikt om binnendiameters, diepten en hartafstanden van gatennauwkeurig te meten voor afmetingen onder 12,5 mm, met eennauwkeurigheid van 0,01 mm.